Mikroskopiskais novērojums
1. Pielāgojiet mikroskopa parametrus
Optiskajiem mikroskopiem vispirms noregulējiet gaismas avota spilgtumu un kontrastu tā, lai tā virsmatitāna folijavar skaidri parādīt. Pēc tam noregulējiet objektīva lēcas un okulāra fokusa attālumu, lai attēls būtu skaidrs. To var panākt, pagriežot objektīva objektīva ciparripu un pielāgojot okulāra fokusa attāluma pogu.
Elektronu mikroskopiem ir jāpielāgo tādi parametri kā paātrinājuma spriegums, staru kūļa intensitāte un elektronu stara darba attālums atbilstoši parauga īpašībām un novērošanas mērķim. Šo parametru regulēšanai ir nepieciešama zināma pieredze un profesionālās zināšanas, kuras regulēšanai var atsaukties elektronu mikroskopa lietošanas instrukcijā.
2. Ievērojiet skrāpējumus uz titāna folijas virsmas
Novietojiet titāna folijas paraugu uz mikroskopa paneļa un atrodiet saskrāpēto vietu, pārvietojot virsmu vai pielāgojot objektīva lēcas stāvokli. Zema palielinājuma objektīvu var izmantot iepriekšējai novērošanai, lai noteiktu skrāpējuma atrašanās vietu un aptuveno diapazonu.
Pēc tam pārslēdzieties uz liela palielinājuma objektīvu un uzmanīgi novērojiet skrāpējuma detaļas. Pievērsiet uzmanību skrāpējuma malu platumam, dziļumam, formai un līdzenumam. Pielāgojot fokusa attālumu un kontrastu, skrāpējumu detaļas var tikt attēlotas skaidrāk.
Elektronu mikroskopiem var izmantot dažādus attēlveidošanas režīmus, piemēram, sekundāro elektronu attēlveidošanu (SEI), atpakaļizkliedēto elektronu attēlveidošanu (BEI) utt., lai novērotu dažādas skrāpējumu īpašības. Sekundārā elektronu attēlveidošana var parādīt parauga virsmas mikrostruktūru, savukārt atpakaļizkliedētā elektronu attēlveidošana var parādīt parauga sastāva atšķirības.
Skrāpējuma pakāpes novērtējums
1. Salīdzinošā metode
Salīdziniet novērotos skrāpējumus uz titāna folijas virsmas ar standarta paraugu ar zināmu skrāpējumu pakāpi, lai noteiktu skrāpējumu apjomu. Var sagatavot virkni skrāpējumu standarta paraugu ar dažādu skrāpējumu pakāpi, piemēram, nelielas, vidēji smagas, smagas skrāpējumus utt., un pēc tam faktiski novērotos skrāpējumus var salīdzināt ar šiem standarta paraugiem, lai noteiktu, kuram līmenim skrāpējums pieder. .
2. Kvantitatīvā mērīšana
Optiskajiem mikroskopiem skrāpējumu platuma un dziļuma mērīšanai var izmantot okulāra mikrometru vai attēlu analīzes programmatūru. Okulāra mikrometrs ir okulārā uzstādīta skala, kas var tieši izmērīt objekta izmēru zem mikroskopa. Attēlu analīzes programmatūra var apstrādāt un analizēt ar mikroskopiem uzņemtos attēlus, izmērīt tādus parametrus kā skrāpējumu lielums un laukums.
Elektronu mikroskopiem kvantitatīvos mērījumus var veikt, izmantojot iebūvētās mērīšanas funkcijas vai attēlu analīzes programmatūru. Elektronu mikroskopiem parasti ir augstāka mērījumu precizitāte, un tie var izmērīt nanomēroga izmērus.
3. Visaptverošs novērtējums
Pamatojoties uz skrāpējumu platuma, dziļuma, formas, malu līdzenuma un kvantitatīvo mērījumu rezultātiem, vispusīgi novērtējiet skrāpējumu pakāpi uz titāna folijas virsmas. Skrāpējumus var klasificēt dažādos līmeņos, piemēram, nelieli skrāpējumi, vidēji smagi skrāpējumi un smagi skrāpējumi, un ir jāsniedz īpaši apraksti un novērtējuma ziņojumi.
kontaktpersona
ZHENAN INTERNATIOANL CO., LTD
Pastāstiet: +8615896822096 (WhatsApp)
Email: info@zaferroalloy.com
Vietne: www.metal-alloy.com
Adrese: Huafu biroja ēka, Anyang, Henanas province, Ķīna.
Laipni lūdzam mūsu uzņēmumā vai rūpnīcā, lai apmeklētu!
Populāri tagi: titāna folijas mikroskopiskā izmeklēšana, Ķīnas titāna folijas ražotāju, piegādātāju, rūpnīcas mikroskopiskā pārbaude